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ペンのタイプLeebの硬度のテスターRhl-110dの非破壊的な試験装置

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中国 HUATEC  GROUP  CORPORATION 認証
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ペンのタイプLeebの硬度のテスターRhl-110dの非破壊的な試験装置

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大画像 :  ペンのタイプLeebの硬度のテスターRhl-110dの非破壊的な試験装置

商品の詳細:
起源の場所: 中国
ブランド名: HUATEC
証明: ISO, CE, GOST
モデル番号: RHL-110
お支払配送条件:
最小注文数量: 1
パッケージの詳細: 標準的な輸出パッケージ
受渡し時間: 1-4working幾日
支払条件: T/T、ウェスタン・ユニオン、Paypal
供給の能力: 500PCS

ペンのタイプLeebの硬度のテスターRhl-110dの非破壊的な試験装置

説明
硬度のスケール: HL、HRC、HRB、HRA、HVのHB、HS データ記憶: 影響の時間32~1に関連する格言350グループの、
充満時間: 1.5~2h 温度を使用して: 0 | 40℃
保管温度: -25 | 70℃ 充満電源: 5VDC、220VAC
ハイライト:

huatecのペンのタイプ硬度のテスター

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硬度のテスターの非破壊的な試験装置

ペンのタイプleebの硬度のテスターRHL-110D

Introdution

モデルRHL-100Dのペンのタイプleebの硬度のテスターは(HB)、Vickers (HV)、およびショウ(HS)直接異なったタイプの硬度の価値を含む(HRC、HRB、HRA)、Leeb (HL)、Brinell測定できる。それによってがまたある国際規格と一致して「Leeb硬度テスター技術的な状態ZBN7l 010-90」のおよび「機械類の企業および国民の質および技術監督の大臣によって出される硬度テスト方法GB/T 17394-1998」Leebの硬度標準的なJB/T9378-2001の標準の金属に会うことができる。

超の長さの待機時間の仕事を達成できる李高性能電池およびローパワー設計によってそれにより密集した、より適用範囲が広い設計増加のユーザーの柔軟性がある。

特徴

lはすべての英国メニュー表示処理し易い。環境のよりよい使用のためのOLEDの表示。

小型USBのCOMポートとのl

lの大容量の記憶は48~350グループ(単一の測定値、平均、テスト日付、影響の方向、影響の時間、材料および硬度のスケール等を含む情報の影響平均times32~1)を貯えることができる。

引張強さ(U.T.S)へのlの転換。

すべての金属材料のためのl

lはソフトウェア口径測定機能を提供する。

lの特別に長い作業時間および待機時間を提供する充満回路が付いている高性能李電池。電池の印は、現在の残りの容量を表示する。

lのPCソフトウェアは品質保証、活動および管理の高需要に応じるために装備することができる。

技術仕様

lの測定範囲:170~960 HLD

方向を測定するl:360°

lの硬度のスケール:HL、HRC、HRB、HRA、HVのHB、HS

lの表示:ドット マトリクスLCD 128×32の点

lのデータ記憶:影響の時間32~1に関連する格言350グループの、

l充満電源:5VDC220VAC

時間を満たすl:1.5~2h

l電池:3.7V80mAh

温度を使用してl:0 | 40

lの保管温度:-25 | 70

lの連続的な働く期間:12h

lのCOMポート:小型USB

lの輪郭次元:146 × 30の× 25mm

lの人間:110g

構成

  いいえ。 項目

 

 

標準的な配達

1 単本管。 1
2 小さいサポート リング 1
3 クリーニング ブラシ(i) 1
4 高い値テスト ブロック 1
5 充電器 1
6 コミュニケーション ケーブル 1
7 ソフトウェア 1

任意

付属品

8 他のタイプのサポート リング  
9 高く、中型、低いHLDの価値テスト ブロック  

 

Conatact人:

ペンのタイプleebの硬度のテスターRHL-110D ペンのタイプleebの硬度のテスターRHL-110D

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ファクシミリ: 86-10-82916893

連絡先の詳細
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コンタクトパーソン: Ms. Shifen Yuan

電話番号: 8610 82921131,8613910983110

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