| 音速範囲: | 400~999m/s | 口径測定のブロック: | 4mm (鋼) |
|---|---|---|---|
| 自動停止: | 5分,10分,20分,手動でシャットダウン | 探査器の校正: | 一点校正,二点校正,手動校正 |
| ハイライト: | 手持ちのコンクリートの厚み計,手持ちのコーティング厚み計 |
||
TG-6200 手持ちの非金属超音波コーティング厚み計
仕様パラメータ
| ポイント | TG-6200 |
| 探査機のタイプ | シングルクリスタル/ツインクリスタル |
| 測定範囲 | 20mm 1800mm |
| 測定頻度 | 4Hz,8Hz,16Hz |
| 決議 | 0.1mm0.01mm0.001mm(0.01インチ,0.001インチ0.0001インチ) |
| パルス発電機 | 負の平方波の放出,パルス幅と電圧は,自動的に探査機にマッチされます |
| 音速 範囲 | 400~999m/s |
| カリブレーションブロック | 4mm (鋼) |
| 自動停止 | 5分,10分,20分,手動でシャットダウン |
| 探査器の校正 | 一点校正,二点校正,手動校正 |
| 利益 | 自動加速,手動加速 |
| 増幅範囲 | 0~80dB |
| 検出モード | RF,正半波 POS,負半波 NEG,フル波 |
| 測定モード | (1) Thin-EE: THINフィルムコーティングモード (2) MB-E: パルス初期波を単一のエコーに送信する (3) E-E:コーティング測定を通じて,任意のEM-ENエコー (4) THIN: thin wall測定モード |
| 数値モデル | 厚さ値モード,差/減速速度モード,最大/最小モード |
| A-スキャンモード | サポート |
| B スキャンモード | サポート |
| 結合表示 | サポート |
| バッテリー表示 | サポート |
| 言語 | 英語 |
| ユニット | mm/インチ |
| メニュー操作 | サポート |
| ソフトウェア機能 | ダイナミックゲート設定,空白設定 (Blank),エコー空白設定 (E-Blank),エコー凍結,エコーパーン,ズーム |
| 貯蔵機能 | 同時に,100,000厚さ (100グループ,各グループが1000),500グループAスキャン波形と500グループBスキャン波形がサポートされています |
| ホストプログラムのアップグレード | ホストプログラムのアップグレードをサポート |
| スクリーン表示 | 3.5 "の真の色画面 |
| データ送信 | USB通信,コンピュータへのデータ転送をサポート |
| 動作温度 | -10°C ~ +50°C,特別要求が -20°Cまで |
| 稼働電圧 | 低電圧の警告と3pcsNo. 5リチウムイオン電池 |
| 総寸法 | 184 x 85 x 32 (ミリ) |
| 機械の重量 | 250g ((バッテリー含まれていません) |
| 標準設定 |
メインマシンとコーティングのための1pc特別な探査機 5号 リチウム電池 3号 充電器 ランダムファイルセット 衝撃防止・防水装置ケース 1号 |
数値表示とA/Bスキャン機能の付いた手持ちの非金属層厚み計. The principle of pulsed reflection ultrasonic thickness measurement is applicable to the measurement of ultra-thin film material or coating thickness that can make ultrasonic wave propagate in it at a constant speed and can be reflected from its back測定解像度は0.001mmで,測定範囲は0.02mmほど薄いもので,コーティングと基板の厚さは同時に測定できます.
この製品は石油,化学工業,金属,造船,航空宇宙,エネルギーなどで使用できます.
主な機能
● 広い測定範囲,最小測定厚さ,コーティング20um,最大測定厚さ1800mm
●高精度厚み測定,最大測定解像度は0.001mmまで;重複解像度は±0.002mmまで
●Aスキャンモード,Bスキャンモード,数値表示モード
● 表面に塗料やコーティングが付いている材料の測定のために,透き通ったコーティングとエコー対エコー測定機能
● 複合材料 の 表面 に ある 塗料 層 と 塗料 層 は,材料 の 異なる 音速 に 基づき 検出 でき ます.10つ以上の多層材料の各層の厚さを同時に測定できる,各層の厚さ値は同じエコーで切り替えることができます.
●様々な測定法:通常の厚さの測定に対応するTIN,MB-E,EE,Autoモード;薄層層の測定のためのTIN E-Eモード
●数値モードには,従来の厚さ値モード,差/減速率モード,最大値モードが含まれます.
●増強モード:自動増強/手動増強
● 手動停止と自動停止を設定できます.省エネ機能があります.
● 20Mhz の高周波探査機をサポートする様々な異なるプロスペクションの探査機,ツイン探査機,シングルクリスタル探査機を使用できます.
● 大容量ストレージをサポートし,同時に10万厚さ値,Aスキャン波形500グループ,Bスキャン波形500グループを格納できます.
●様々な校正方法があり,単点校正,多点校正,手動校正モードをサポートし,同時に音速と探査ゼロ位置を校正できます.V経路の校正をサポートする.
● 帝国式 換算 毫米 と インチ を 切り替える こと が でき ます.
● 中国語と英語の表示
適用可能な材料
金属および非金属 (ガラス,複合材料,プラスチック,コンクリート,木等) の基板のコーティング厚さを測定する.
金属 (鋼,鋳鉄,アルミ,銅など),プラスチック,陶器,ガラス,樹脂,ガラス繊維,その他の優れた超音波導体の厚さ測定に適しています.
The principle of pulsed reflection ultrasonic thickness measurement is applicable to the measurement of ultra-thin film material or coating thickness that can make ultrasonic wave propagate in it at a constant speed and can be reflected from its back.
コンタクトパーソン: Ms. Shifen Yuan
電話番号: 8610 82921131,8613910983110
ファックス: 86-10-82916893
