ベンチタイプ 磁気発光粒子欠陥検出器

I.作業原則

磁気粒子検査は,工品の欠陥部位にある漏れ磁場と磁気粒子との相互作用を利用する.表面と近表面の欠陥 (裂け目など) の磁気透通性の違いを利用します磁気化後,磁気化された鋼材は,磁気化された鋼材の磁気浸透性により,これらの材料の不連続部分の磁場が歪みます部分的な磁気流の漏れと漏れ磁場が生成する.漏れ磁場が磁気粒子を吸収できるという特性を利用して適切な照明条件下では,欠陥の位置と形状が明らかになります.

II.使用

Fluorescent magnetic particle flaw detectors are used to detect fine defects such as cracks and slag inclusions on and near the surface of ferromagnetic workpieces (such as couplings) caused by forging消し,磨き,疲労,糸加工など

部品の仕様

直径<φ400mm,長さ200~500mm

第3回スタンダード

磁気粒子の欠陥検出器:GB/T8290 2011

磁気粒子試験の観測条件:GB/T 5097-2020/ISO 3059:2012

アメリカ試験材料学会:磁気粒子試験方法 ASTM E1444-01

EU,国際規格:DIN EN ISO 9934-2-2003

IV検出プロセス

メカニカルハンドは部品を待機位置に掴む --- コンベアベルトは部品を磁気化位置に運ぶ --- スレッド,スプレー, and magnetization --- The mechanical hand grabs the parts to the observation position --- observing the outer surface --- rotating the disc 360 degrees to observe the inner hole --- the mechanical hand grabs the parts to the demagnetization area --- the parts are demagnetized through the demagnetization coil --- The parts roll down to the unloading rack under the effect of gravity

V. テクニカルパラメータ

VI について機能と特徴

• 暗い部屋 独特の形状のデザイン
• 固定紫外線ランプ
• 発光磁粒子試験
• 棒のスレッド磁化,縦磁化,複合磁化
• タッチスクリーン コントロールパネル 英語メニュー
• 本来のRMSディスプレイで電流をプリファブリックすることができます
• 主なコンポーネントは国際的に有名なブランドです
• 電源停止段階制御機能
• 自動減衰消磁化

第7話設定表

1セット x 磁気粒子欠陥検出線

2セット x 磁気電源

1 セット x マグネティゼーション メカニズム

1セット × 回転式観測テーブル

移植操作装置の2セット

1セット × ダークルーム

1 セット × 標準試験品

1セット × マグネティズムメーター

1セット × 足のスイッチ

1セット × 懸垂紫外線ランプ

1 セット × ハンドヘルド 紫外線ランプ