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商品の詳細:
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| 製品名: | 試験片（QQI） | タイプ: | CX230 |
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| 標準: | ASME-2007 ページ番号 V | 重さ: | 0.1kg |
| ハイライト: | QQIの欠陥は NDTの欠陥です,ミニチュア欠陥は磁気検査を妨げる,粒子検査用の標準シーム |
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磁気探傷検査用 シム ミニチュア QQI 標準欠陥シム
磁気QQI（定量的品質指標）は、磁気探傷検査（MPI）用途において、部品内の磁場方向と磁場強度を示すために使用される人工欠陥付きの磁粉試験片です。磁気QQIは、部品固有のMPI技術の磁化パラメータを設定するのに役立ちます。QQIは、磁化装置の日々のシステム性能チェックの例として使用できます。磁気QQIは薄くて柔軟性があるため、試験片に簡単に適用でき、テープまたは接着剤で固定できます。
| 試験片（QQI） | CX230 厚さ0.002インチ、ASTM E1444/E1444M-11 |
| CX430 厚さ0.004インチ、ASTM E1444/E1444M-11 | |
| CX4-230 厚さ0.004インチ、ASTM E1444/E1444M-11 | |
| CX4-430 厚さ0.004インチ、ASTM E1444/E1444M-11 | |
| 3C2-234 厚さ0.002インチ、厚さ0.002インチ、ASTM E1444/E1444M-11 | |
| 3C4-234 厚さ0.004インチ、ASTM E1444/E1444M-11 | |
| 試験片（QQI） | タイプ A/C/D/M1、1# 15/100μ 2# 30/100μ 3# 60/100μ 4# 7/50μ 5# 15/50μ 6# 30/50μ、1セット6個 |
コンタクトパーソン: Ms. Shifen Yuan
電話番号: 8610 82921131,8618610328618
ファックス: 86-10-82916893
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