HR-150D 多機能 高精度 ロックウェル硬度テスト 自動データ変換 組み込みプリンター RS232 輸出 産業用金属硬度テスト

オペレーティング·システム: Window CE 6.0 オペレーティング システム、安全で信頼性の高い

フィルター: テスト要素に応じて自動で切り替えられる8つのフィルターを搭載

テスト方法: 基本パラメータ法、経験係数法補正をサポート

検出要素: Mg、Al、Si、P、S、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hf、Ta、W、Hg、Se、Au、Br、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Ag、Cd、Sn、Sb、Re、Ir、Pt、Hg、Ru

オペレーティング·システム: Window CE 6.0 オペレーティング システム、安全で信頼性の高い

フィルター: テスト要素に応じて自動で切り替えられる8つのフィルターを搭載

テスト方法: 基本パラメータ法、経験係数法補正をサポート

検出要素: Mg、Al、Si、P、S、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hf、Ta、W、Hg、Se、Au、Br、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Ag、Cd、Sn、Sb、Re、Ir、Pt、Hg、Ru

オペレーティング·システム: Window CE 6.0 オペレーティング システム、安全で信頼性の高い

フィルター: テスト要素に応じて自動で切り替えられる8つのフィルターを搭載

テスト方法: 基本パラメータ法、経験係数法補正をサポート

検出要素: Mg、Al、Si、P、S、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hf、Ta、W、Hg、Se、Au、Br、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Ag、Cd、Sn、Sb、Re、Ir、Pt、Hg、Ru

分析マトリックス: Fe,Al,Cu,Zn,Ni,Mg,Pbなど

波長範囲: 160~580nm

検出器: 高性能 CMOS アレイ

格子焦点長さ: 401mm

分析マトリックス: Fe,Al,Cu,Zn,Ni,Mg,Pbなど

波長範囲: 160~580nm

検出器: 高性能 CMOS アレイ

格子焦点長さ: 401mm