モデル:HAP-100U
サンプル直径:3 (オプション: 4インチ),磨きや磨きに使用することができます 3 (オプション: 4インチ) ウェーファー
サンプル傾き角:0〜10度調整可能
使用:磁気試験
スタンダード:ASME JB/T6066-2005
空白型:偽造品
測定範囲:050μm
電力消費量:25W以上ではない
電源:AC 220V±10%,50~60Hz
磨き解像度:1ミクロン
サンプル傾き角:0〜10度調整可能
試料の負荷力:0〜4kgから連続調整可能
表示装置:CPMの、CPSの、Bq/cm2の、mSvの、μGy/hの、mGy/h
相対的基本誤差:プラスまたはマイナス15%以下
測定の時間:1, 10, 20, 60, 120秒はオプションです
範囲:0~15000mm 鋼の速度で
材料速度:100~20000 M/s
脈拍繰返し頻度:10〜10000Hz
周流磁気電流:AC 0-4000A 断続調節可能で,電源オフ段階制御
縦磁性容量:AC 0- (3000A*6T) 18000AT 断続調節可能 断熱段階制御
打撃を締め金で止めること:0 mm~1500 mm
周回磁化電流 (A):4000
縦磁性MMF (AT):12000、16000、18000
選択可能なコイル内径 (mm):350、400、500
AC電流:0-1500A
電源:220V (二相三線システム) ±10%,50Hz,即時電流は約100A.
マグネティゼーション方法:AC磁化,DC磁化 (HWDC/FWDV)
マグネット電極距離:45~225mm
電源ケーブルの長さ (スプリングワイヤ):3m
温度 の 上昇:ハンドルの表面温度 ≤40°C
縦磁気流量電位 (AT):12000
コイル内径 ((mm):400
制御モード:手動/半自動
検出器:高性能のケイ素の漂流SDDの検出モジュール
合金内の主要な要素を分析する:Mg, Al, Si, P, S, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Zr, Nb, Mo, Rh, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, Hf, Ta,
分析方法:直接読み取り分析方法+基本パラメータ方法 (FP)
