表示間違い:0-199<2グウ、200-2000<1% Gs
テスト精度:<1% (G)
測定の点:14×48 (mm) エリプス
画面:10mm液晶ディスプレイ
サンプリング時間:0.4秒
メモリ:最後の値、最大値値、最小値
画面:10mm液晶ディスプレイ
サンプリング時間:0.4秒
メモリ:最後の値、最大値値、最小値
試験範囲:0.0-300.0 (GS)
テスト精度:<1.2 (GS)
安定性:0.4Gs/30min
表示範囲:0~2000 （グウ）
表示間違い:0-199<2グウ、200-2000<1% Gs
安定性:<2 Gu="">
表示範囲:0~2000 （グウ）
表示間違い:0-199<2グウ、200-2000<1% Gs
安定性:<2 Gu="">
測定範囲:0-1000um
測定精度:±1-3%n または ±2.5um
解像度比:0.1μm/1μm
測定範囲:0-1000um
測定精度:±1-3%n または ±2.5um
解像度比:0.1μm/1μm
測定範囲:0～1500μm
環境を使用して:0℃～50℃、20%RH～90%RH、磁気の強い場所を避けてください。
測定精度:±（3%H+1.5μm）
感度:A1 型標準試験フィルム 15/100 溝は,国家標準よりも明確に表示されます.
吊り上げ力:AC ≥68.6N (7kg)
探査のポール距離:60mm~205mm (距離は調整可能)
感度:A1 型標準試験フィルム 15/100 溝は,国家標準よりも明確に表示されます.
吊り上げ力:AC ≥68.6N (7kg)
探査のポール距離:60mm~205mm (距離は調整可能)
感度:A1 型標準試験フィルム 15/100 溝は,国家標準よりも明確に表示されます.
吊り上げ力:AC ≥68.6N (7kg)
探査のポール距離:60mm~205mm (距離は調整可能)
Japanese
