CS NDT 校正ブロック IIW V1 非破壊検査用

NDT校正ブロック IIW V1 ブロック

IIW V1 校正ブロック

規格: ISO2400-1972E

IIW試験ブロック（V-1試験ブロック）は、ダッチ試験ブロックとも呼ばれます。国際溶接学会（IIW）によって承認され、国際標準化機構（ISO）によって推奨されている国際標準試験ブロックです。形状とサイズを図1-1に示します。

主な使用ポイント:

(1) 試験ブロックの厚さ25mmを使用して、探傷器のダイナミックレンジ、水平直線性、縦波探傷範囲を測定できます。

(2) 50アークと1.5貫通孔を使用して、斜角探触子の屈折角と縦波ストレート探触子の感度マージンを決定します。また、ストレート探触子のブラインドエリアのサイズと、探傷器と探触子を組み合わせたときの浸透能力を概算することも可能です。

(3) R100mmアーク面を使用して、斜角探触子の入射点とブラインドエリアを測定し、時間軸比率とゼロ点を補正できます。

(4) 85mm、91mm、100mmのノッチ面を使用して、ストレート探触子の縦分解能を測定できます。

(5) 試験ブロックの直角エッジを使用して、斜角探触子の音響ビームスキュー角を測定します。